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一鍵式快速尺寸測量儀的測量步驟及注意事項
2025-05-27
一鍵式快速尺寸測量儀是一種高效、便捷的測量設備，采用新型圖像影像測量技術，通過大視野大景深、高數值孔徑、低畸變雙遠心鏡頭，將被測物體的影像輪廓縮小后傳遞到高分辨率CMOS相機上做數字化處理。隨后，由具備強大計算能力的后臺繪圖測量軟件按照預先設置好的編程指令，快速抓取產品輪廓，并與相機微小像素點形成的標尺進行比對，從而計算出產品尺寸及尺寸公差。一鍵式快速尺寸測量儀的測量操作步驟：1、放置工件將待測工件平穩放置在測量臺上，確保工件表面與測量臺平行（避免傾斜）。對于小型工件，可使用...
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一鍵式快速尺寸測量儀其有著怎樣的特點呢？
2025-05-25
一鍵式快速尺寸測量儀是一種高效、便捷的測量設備，采用新型圖像影像測量技術，通過大視野大景深、高數值孔徑、低畸變雙遠心鏡頭，將被測物體的影像輪廓縮小后傳遞到高分辨率CMOS相機上做數字化處理。隨后，由具備強大計算能力的后臺繪圖測量軟件按照預先設置好的編程指令，快速抓取產品輪廓，并與相機微小像素點形成的標尺進行比對，從而計算出產品尺寸及尺寸公差。一鍵式快速尺寸測量儀的主要特點：1、快速測量一鍵操作：只需放置工件、按下啟動鍵，儀器即可自動完成測量并輸出結果，無需復雜手動調整。秒級響...
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wafer晶圓幾何形貌測量系統：厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數據測量
2025-05-23
晶圓是半導體制造的核心基材，所有集成電路（IC）均構建于晶圓之上，其質量直接決定芯片性能、功耗和可靠性，是摩爾定律持續推進的物質基礎。其中晶圓的厚度（THK）、翹曲度（Warp）和彎曲度（Bow）是直接影響工藝穩定性和芯片良率的關鍵參數：1、厚度（THK）是工藝兼容性的基礎，需通過精密切割與研磨實現全局均勻性。2、翹曲度（Warp）反映晶圓整體應力分布，直接影響光刻和工藝穩定性，需通過退火優化和應力平衡技術控制。3、彎曲度（Bow）源于材料與工藝的對稱性缺陷，對多層堆疊和封裝...
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探索微觀世界的“度量衡”：顯微測量儀器解析
2025-05-23
在微觀世界的探索之旅中，精準測量材料如同在錯綜復雜的迷宮中尋找出口，是現代制造業和科研領域的關鍵任務。臺階儀、光學輪廓儀和共聚焦顯微鏡，這些看似冰冷的儀器設備，實則是微觀世界的“度量衡”，憑借其技術與性能，為我們解鎖微觀世界的厚度奧秘。NanoStep臺階儀：納米世界的“繡花針”想象用繡花針在豆腐表面畫地圖！臺階儀的金剛石探針僅有2微米（相當于蜘蛛絲粗細），具備超微力調節的能力和亞埃級的分辨率。-獨門絕技：磁吸式探針3秒快速更換，像換手機殼一樣方便；-硬核性能：從半導體芯片的...
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掃描電鏡：打開微觀世界的“超維相機“，科學家如何用它破解納米謎題？
2025-05-23
當你用手機拍攝一朵花的微距照片時，放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你，科學家手中的"相機"能將物體放大百萬倍，連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見，你是否會好奇這背后的黑科技？這把打開微觀宇宙的鑰匙，正是掃描電子顯微鏡（SEM）。SEM的"超能力"從何而來？傳統顯微鏡受限于可見光波長，放大極限止步于200納米。而掃描電鏡利用高能電子束作為"探針"，通過電磁透鏡操控電子軌跡，突破衍射極限，分辨率可達1納米以下。CEM3000掃描電鏡桌面化設計讓實驗室“去中心化”。其70000倍成像...
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精度不夠？PLR3000光纖激光尺：0.2ppm誤差解鎖微米級制造
2025-05-23
當“精度焦慮”成為制造業的隱形門檻：在半導體光刻中，1nm偏差可能導致整片晶圓報廢；在精密機床加工中，熱變形讓傳統測量工具“失靈”……“高精度、高穩定、抗干擾”——工業超精密制造的三大痛點，如何破局？PLR3000系列光纖激光尺基于激光干涉測量原理，具有更加精確的柵距和更高的分辨率，同時其熱源隔離設計，保證了更高的穩定性，同時具有安裝快捷，易于準直等特點，在微電子、微機械、微光學等現代超精密加工制造、光刻技術等高科技領域廣泛應用。核心優勢1、高精度分辨率10nm（可拓展），線...
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光學輪廓儀在安裝方面有著以下事項
2025-05-22
光學輪廓儀是一種利用光學原理來測量物體表面形狀和輪廓的儀器，廣泛應用于多個領域。其工作原理是通過投射光線到物體表面，利用光學傳感器接收反射光信號，并根據信號變化確定物體表面的形狀和輪廓。光學輪廓儀采用非接觸式測量方式，避免了對被測物體的損傷，尤其適用于精密、易損的材料和工件。該儀器具有高分辨率的測量能力，可以捕捉到物體表面微小的細節，無論是納米級的微觀結構還是宏觀物體的復雜形貌，都能清晰呈現。其測量速度也較快，能夠在短時間內完成大量數據的采集，提高工作效率。光學輪廓儀的安裝事...
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三坐標測量機技術解析：原理、構造與應用進展
2025-05-22
三坐標測量機（CMM）是一種高精度的新型精密測量儀器，其工作原理基于直角坐標系。測量時，將被測零件置于測量空間，通過三個相互垂直的X、Y、Z運動軸，測頭精確采集零件表面各點的坐標值。這些坐標數據經計算機處理后，可擬合出圓、球、圓柱等幾何元素，進而計算出形狀、位置公差等參數。在構造方面，三坐標測量機通常由測頭系統、電氣驅動系統、花崗巖臺面、三軸導軌等部件組成。測頭系統包含探頭、探針等，負責精確采集數據；電氣驅動系統則通過電機、皮帶等部件實現測頭的精確移動。不同結構形式的三坐標測...
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